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  • 薄膜測厚儀
    薄膜測厚儀

    更新時間：2024-06-04

    型號：

    瀏覽量：3393

    薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點，可在真空環境使用；可與大行程工件臺配合，實現大面積膜厚自動測量。
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  • 微納結構三維形貌測量儀
    微納結構三維形貌測量儀

    更新時間：2024-06-04

    型號：

    瀏覽量：2480

    微納結構三維形貌測量儀系列微納結構三維形貌檢測儀，基于白光干涉掃描原理，以光波長作為測量基準，利用納米級高精度掃描系統結合具有自主知識產權的高精度解析算法，實現連續或臺階突變微納結構表面三維形貌重構，由此獲得待測物體三維形貌、表面紋理、微觀尺寸等各類外觀參數測量結果。
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